测试技术指标协议

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测试技术指标协议

 

 

______集成电路设计研究中心(甲方)和_______公司(乙方)经友好协商,对__________项目的有关测试技术指标问题达成如下协议:

一、乙方应在本协议签定_____天内将芯片资料,测试码提供给甲方。

二、甲方在乙方提供封装好的芯片后_____天内,将测试分析结果提交给乙方。

三、具体测试要求:

甲方按乙方要求,在测试时将pa4、pa5、pa6、pa7端经3.3k电阻上拉至5伏。

甲方在测试分析时,应让______芯片工作在5v。

乙方提供____功能测试码文件(t______t格式)两份。

甲方使用乙方提供的功能测试码文件,在1mhz下对样品进行测试分析。

乙方认为正常情况下,样品的功能测试应全部通过,参数测试结果应在下表给定的范围内。

测试参数(常温)测试条件最大值典型值最大值单位

静态工作电流vdd=5vua

动态工作电流vdd=5vua

输入高电平电压vdd=5vv

输入低电平电压vdd=5vv

输入高电平电流vdd=5v,vih=5vua

输入低电平电流vdd=5v,vil=0vua

输出高电平电压vdd=5vv

输出低电平电压vdd=5vv

输出高电平电流vdd=5v,voh=4.2vma

输出低电平电流vdd=5v,vol=0.4vma

如乙方提供的样品中有____%满足以上要求,甲方应向乙方出具一份测试分析报告,并以附件形式(磁盘文件,t______t格式)提供详细的测试数据。

乙方若对甲方出具的测试分析报告及测试数据有任何疑问,必须在甲方测试分析工作完成之日起的两个月内向甲方提出。

乙方若须增加测试分析内容,必须与甲方协商解决。

甲方:

乙方:

签订地点:_________

_________年____月____日

 

测试技术指标协议

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测试技术指标协议

 

 

______集成电路设计研究中心(甲方)和_______公司(乙方)经友好协商,对__________项目的有关测试技术指标问题达成如下协议:

一、乙方应在本协议签定_____天内将芯片资料,测试码提供给甲方。

二、甲方在乙方提供封装好的芯片后_____天内,将测试分析结果提交给乙方。

三、具体测试要求:

甲方按乙方要求,在测试时将pa4、pa5、pa6、pa7端经3.3k电阻上拉至5伏。

甲方在测试分析时,应让______芯片工作在5v。

乙方提供____功能测试码文件(t______t格式)两份。

甲方使用乙方提供的功能测试码文件,在1mhz下对样品进行测试分析。

乙方认为正常情况下,样品的功能测试应全部通过,参数测试结果应在下表给定的范围内。

测试参数(常温)测试条件最大值典型值最大值单位

静态工作电流vdd=5vua

动态工作电流vdd=5vua

输入高电平电压vdd=5vv

输入低电平电压vdd=5vv

输入高电平电流vdd=5v,vih=5vua

输入低电平电流vdd=5v,vil=0vua

输出高电平电压vdd=5vv

输出低电平电压vdd=5vv

输出高电平电流vdd=5v,voh=4.2vma

输出低电平电流vdd=5v,vol=0.4vma

如乙方提供的样品中有____%满足以上要求,甲方应向乙方出具一份测试分析报告,并以附件形式(磁盘文件,t______t格式)提供详细的测试数据。

乙方若对甲方出具的测试分析报告及测试数据有任何疑问,必须在甲方测试分析工作完成之日起的两个月内向甲方提出。

乙方若须增加测试分析内容,必须与甲方协商解决。

甲方:

乙方:

签订地点:_________

_________年____月____日

 

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